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国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所河北北芯半导体科技有限公司安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司河北中电科航检测技术服务有限公司捷捷半导体有限公司佛山市川东磁电股份有限公司

主要起草人 高蕾张魁鲁世斌迟雷翟玉颖彭浩高金环张瑞霞黄杰赵鹏徐昕魏兵黎重林颜天宝金哲

目录

标准状态

当前标准

GB/T 4937.26-2023 现行

半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)

基础信息

标准号
GB/T 4937.26-2023
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-26:2018。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)。

起草单位

起草人

高蕾
张魁
翟玉颖
彭浩
黄杰
赵鹏
黎重林
颜天宝
鲁世斌
迟雷
高金环
张瑞霞
徐昕
魏兵
金哲

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