国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北北芯半导体科技有限公司 、安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司 、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司 、河北中电科航检测技术服务有限公司 、捷捷半导体有限公司 、佛山市川东磁电股份有限公司 。
主要起草人 高蕾 、张魁 、鲁世斌 、迟雷 、翟玉颖 、彭浩 、高金环 、张瑞霞 、黄杰 、赵鹏 、徐昕 、魏兵 、黎重林 、颜天宝 、金哲 。
GB/T 4937.26-2023 现行
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-26:2018。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)。