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国家标准计划《表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法》由 TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院

主要起草单位 清华大学电子工程系

主要起草人 查良镇陈旭王光普黄雁华黄天斌刘林等

目录

项目进度

当前标准计划

20020617-T-469 已发布

表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
已发布标准

基础信息

计划号
20020617-T-469
制修订
制定
项目周期
60个月
下达日期
2005-12-14
标准类别
方法
中国标准分类号
N33
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
执行单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

起草单位

起草人

查良镇
陈旭
黄天斌
刘林
王光普
黄雁华

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 14606:2000。

采标中文名称:表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法。

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