国家标准《微机电系统(MEMS)技术 微沟槽和棱锥式针结构的描述和测量方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 苏州市质量和标准化院 、中机生产力促进中心有限公司 、苏州揽芯微纳科技有限公司 、东南大学 、苏州市标准化协会 、美满芯盛(杭州)微电子有限公司 、深圳市中图仪器股份有限公司 、四川富生电器有限责任公司 、深圳市美思先端电子有限公司 、中国合格评定国家认可中心 、深圳市道格特科技有限公司 。
主要起草人 张硕 、顾枫 、李根梓 、沈俊杰 、俞骁 、周再发 、王敏锐 、贾建国 、许百宏 、许克宇 、王志远 、刘志广 。
GB/T 42158-2023 现行
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.99 其他半导体分立器件 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-26:2016。
采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第26部分:微沟槽和针结构的描述和测量方法。