注册

国家标准计划《微机电系统(MEMS)技术 层状MEMS材料界面结合能的四点弯曲试验方法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会。 拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位 北京自动化控制设备研究所合肥美的电冰箱有限公司中机生产力促进中心有限公司北京晨晶电子有限公司山东中康国创先进印染技术研究院有限公司苏州大学西安交通大学中国科学院空天信息创新研究院深圳市速腾聚创科技有限公司华润上华科技有限公司安徽奥飞声学科技有限公司北京遥测技术研究所天津新智感知科技有限公司中国电子科技集团公司第三十八研究所山东中科思尔科技有限公司

主要起草人 王永胜曹诗亮尚克军李根梓刘韧汤一毛志平孙立宁王志广陈德勇杨旸要彦清张鲁宇鲁毓岚张新伟安志武郑冬琛路文一陈得民张红旗商艳龙李帆雅

目录

项目进度

当前标准计划

20221872-T-469 正在审查

微机电系统(MEMS)技术 层状MEMS材料界面结合能的四点弯曲试验方法

基础信息

计划号
20221872-T-469
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2022-12-30
标准类别
方法
中国标准分类号
L59
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

王永胜
曹诗亮
刘韧
汤一
王志广
陈德勇
张鲁宇
鲁毓岚
郑冬琛
路文一
商艳龙
李帆雅
尚克军
李根梓
毛志平
孙立宁
杨旸
要彦清
张新伟
安志武
陈得民
张红旗

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-31:2019。

采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第31部分:层状MEMS材料界面结合能的四点弯曲试验方法。

相近标准(计划)