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国家标准《微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。

主要起草单位 北京大学 、中机生产力促进中心 、北京智芯传感科技有限公司 、无锡华润上华科技有限公司 、中北大学 、北京必创科技股份有限公司 。

主要起草人 张威 、李海斌 、张亚婷 、朱悦 、夏长奉 、石云波 、陈得民 、马书嫏 、程红兵 、周浩楠 。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 38446-2020 现行

微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法

基础信息

标准号
GB/T 38446-2020
发布日期
2020-03-06
实施日期
2020-10-01
上次复审日期
2025-11-03
上次复审结论
继续有效
标准计划
20171124-T-469
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

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