国家标准计划《酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 新光硅业科技责任有限公司 。
主要起草人 王波 、过惠芬 、吴道荣 、梁洪 、敖细平 。
20073569-T-469 已发布