国家标准《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》 由TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 国家纳米科学中心 、上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司 、上海市计量测试技术研究院 、北京粉体技术协会 。

主要起草人 朱晓阳 、朱君 、常怀秋 、齐笑迎 、蔡潇雨 、周素红 。