国家标准《纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法》 由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 上海交通大学 、纳米技术及应用国家工程研究中心 。

主要起草人 李慧琴 、金承钰 、梁齐 、何丹农 、韦菲菲 。