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纳米技术 原子力显微术测定 纳米薄膜厚度的方法

Nanotechnology-Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy
国家标准计划 修订 推荐性

国家标准计划《纳米技术 原子力显微术测定 纳米薄膜厚度的方法》由 TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 上海交通大学 、纳米技术及应用国家工程研究中心 。

目录

项目进度

  1. 起草
  2. 征求意见
  3. 审查
  4. 批准
  5. 发布
修订了以下标准

GB/T 36969-2018 （全部代替）

纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法
当前标准计划

20255016-T-491 正在起草

纳米技术 原子力显微术测定 纳米薄膜厚度的方法

基础信息

计划号
20255016-T-491
制修订
修订
项目周期
16个月
下达日期
2025-10-05
标准类别
方法
国际标准分类号
07.080
07 数学、自然科学
07.080 生物学、植物学、动物学
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位
全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

起草单位

上海交通大学
纳米技术及应用国家工程研究中心

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