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国家标准化指导性技术文件登记项目《微机电系统(MEMS)技术 高深宽比微结构深度光谱反射测量法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位 中国科学院微电子研究所天津大学中机研标准技术研究院(北京)有限公司中北大学中国电子科技集团第四十九研究所

主要起草人 陈晓梅霍树春胡春光李根梓辛晨光刘智辉

目录

项目进度

当前登记项目

20255519-Z-469 正在起草

微机电系统(MEMS)技术 高深宽比微结构深度光谱反射测量法

基础信息

登记号
20255519-Z-469
制修订
制定
项目周期
12个月
登记日期
2025-10-10
标准类别
产品
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

陈晓梅
霍树春
辛晨光
刘智辉
胡春光
李根梓

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