国家标准化指导性技术文件登记项目《微机电系统(MEMS)技术 高深宽比微结构深度光谱反射测量法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布即实施。
主要起草单位 中国科学院微电子研究所 、天津大学 、中机研标准技术研究院(北京)有限公司 、中北大学 、中国电子科技集团第四十九研究所 。
主要起草人 陈晓梅 、霍树春 、胡春光 、李根梓 、辛晨光 、刘智辉 。
20255519-Z-469 正在起草
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |