国家标准计划《碳化硅单晶片微管密度测试方法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所 、北京天科合达半导体股份有限公司 、安徽长飞先进半导体有限公司 、广东天域半导体股份有限公司 、山东天岳先进科技股份有限公司 。
GB/T 30868-2014 (全部代替)
GB/T 31351-2014 (全部代替)
20231108-T-469 正在征求意见
77 冶金 |
77.040 金属材料试验 |