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国家标准《酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 新光硅业科技责任有限公司

主要起草人 王波过惠芬吴道荣梁洪敖细平

目录

标准状态

当前标准

GB/T 24582-2009 废止

酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
被以下标准替代

GB/T 24582-2023 (全部代替)

多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法

基础信息

标准号
GB/T 24582-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
废止日期
2024-03-01
标准类别
方法
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
29 电气工程
29.045 半导体材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

王波
过惠芬
敖细平
吴道荣
梁洪

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