国家标准《嵌入式基板测试方法》 由TC47（全国印制电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十五研究所 、广州广合科技股份有限公司 、无锡市同步电子科技有限公司 、北京尊冠科技有限公司 、中国电子技术标准化研究院 。

主要起草人 张欣欣 、田玲 、唐鹏 、边红丽 、曹易 、郭晓宇 、彭镜辉 、陈懿 、陈长生 、何栋 、楼亚芬 、薛超 。

本标准修改采用IEC国际标准：IEC 62878-1-1:2015 。

采标中文名称:嵌入式基板 第1-1部分：总规范 测试方法。