国家标准计划《嵌入式基板测试单元组》由 TC47（全国印制电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 拟实施日期：发布即实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十五研究所 、天津津航技术物理研究所 、无锡睿龙新材料科技有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、北京太极先行电子科技有限公司吉水分公司 、诚亿电子（嘉兴）有限公司 、珠海越亚半导体股份有限公司 、广州杰赛电子科技有限公司 、珠海越芯半导体有限公司 、南通越亚半导体有限公司 、淮安特创科技有限公司 。

主要起草人 张欣欣 、叶伟 、向中荣 、薛超 、彭博 、石磊 、邱锡曼 、陈先明 、张靖 、洪业杰 、冯磊 、郭晓宇 、张正军 、黄本霞 、赵锋 、高玉佳 、张中华 、许校彬 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 62878-2-4：2015。

采标中文名称: 嵌入式基板测试单元组（TEG）。