国家标准《半导体器件 微电子机械器件 第 36 部分：MEMS 压电薄膜的环境及介电耐压试验方法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）、全国微机电技术标准化技术委员会联合归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、中国电子技术标准化研究院 、广东工业大学 、中国科学院微电子研究所 、电子科技大学 。

主要起草人 黄钦文 、刘若冰 、何春华 、路国光 、周斌 、焦斌斌 、苏伟 、涂程 、董显山 、韦覃如 、黄鑫龙 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62047-36:2019。

采标中文名称:半导体器件 微电子机械器件 第 36 部分：MEMS 压电薄膜的环境及介电耐受试验方法。