国家标准《半导体器件 微电子机械器件 第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值测试方法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）、全国微机电技术标准化技术委员会联合归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 北京智芯传感科技有限公司 、北京空间机电研究所 、北京大学 、安徽京芯传感科技有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、深圳仕上电子科技股份有限公司 。

主要起草人 张威 、白先民 、张亚婷 、冯艳露 、赵晓东 、杨明 、刘若冰 、熊志红 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62047-40:2021。

采标中文名称:半导体器件 微电子机械器件 第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值测试方法。