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国家标准《微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 北京大学中机生产力促进中心北京智芯传感科技有限公司无锡华润上华科技有限公司中北大学北京必创科技股份有限公司

主要起草人 张威李海斌张亚婷朱悦夏长奉石云波陈得民马书嫏程红兵周浩楠

目录

标准状态

当前标准

GB/T 38446-2020 现行

微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法

基础信息

标准号
GB/T 38446-2020
发布日期
2020-03-06
实施日期
2020-10-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

张威
李海斌
夏长奉
石云波
程红兵
周浩楠
张亚婷
朱悦
陈得民
马书嫏

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