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行业标准《微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法》由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会归口上报,主管部门为工业和信息化部

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院航天电子科技集团公司第七七二研究所中国电子科技集团公司第十三研究所等

主要起草人 安琪林建京张崤君等

目录

标准状态

基础信息

标准号
SJ/T 11705-2018
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.2
31 电子学
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
主管部门
工业和信息化部
行业分类
信息传输、软件和信息技术服务业

备案信息

备案号:63630-2018。

备案公告: 2018年第6号

起草单位

起草人

安琪
林建京
张崤君

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