行业标准《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、上海复旦微电子集团股份有限公司 、中国科学院电子技术研究所等 。

主要起草人 刘芳 、尹航 、胡海涛等 。

备案号：63632-2018。

备案公告： 2018年第6号 。