国家标准计划《半导体集成电路 嵌入式非易失性存储器测试方法》由 TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 存心科技（北京）有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、清华大学 、东亘微电子研究（上海）有限公司 、钠存科技（杭州）有限公司 、复旦大学 、北京大学 、安徽华迅科技有限公司 、中国科学院物理研究所 、浙江驰拓科技有限公司 、深圳市昂科技术有限公司 、武汉精测电子集团股份有限公司 、极海微电子股份有限公司 、昇显微电子(苏州)股份有限公司 、联芸科技（杭州）股份有限公司 、鸾起科技（苏州）有限公司 、苏州科美信息技术有限公司 、南京邮电大学南通研究院有限公司 、成都态坦测试科技有限公司 、北京超弦存储器研究院 、深圳市联瑞电子有限公司 、深圳率能半导体有限公司 、合肥格易集成电路有限公司 、深圳市鹏润宁科技有限公司 、深圳科摩思智能科技有限公司 、浙江力积存储科技股份有限公司 、深圳玖合精工科技有限公司 、深圳市华芯半导体装备技术有限公司 、深圳市德明利技术股份有限公司 、珠海市杰理科技股份有限公司 、苏州凌存科技有限公司 、成都芯金邦科技有限公司 、深圳市金泰克半导体有限公司 、北京宽温微电子科技有限公司 、北京智芯微电子科技有限公司 、芯测通（深圳）半导体有限公司 、浙江睿兆芯片半导体科技有限公司 、浙江澜盾电子有限公司 、北京安纳智芯科技有限公司 、北京新忆科技有限公司 、北京忆元科技有限公司 、昕原半导体（上海）有限公司 、中国科学院微电子研究所 、燕芯微电子（上海）有限公司 、国家集成电路创新中心（上海集成电路制造创新中心有限公司） 、成都锐成芯微科技股份有限公司 、美芯晟科技（北京）股份有限公司 、无锡舜铭存储科技有限公司 。

主要起草人 苏志强 、周俊 、张秋 、林阳荟晨 、高滨 、唐建石 、姚鹏 、吴巍 、童婧文 、张卫 、周鹏 、闫娜 、蔡一茂 、黄鹏 、刘武 、韩秀峰 、迟克群 、黄斌华 、帅敏 、陈亮 、秦良 、杨微 、蒋辉 、岑彪 、陈光第 、蔡志匡 、姚景祺 、王恒鹭 、徐永刚 、王桂磊 、周永红 、黄涛涛 、王永成 、陈庄 、夏俊杰 、刘胜 、吴伟波 、夏裕 、祁广田 、邓玉林 、朱政 、谢杰志 、李创锋 、张立军 、沈钦义 、邹连英 、王嘉希 、吕立强 、向锐 、王坤 、郝镇齐 、夏卓卿 、崔岩 、罗庆 、王宗巍 、尹睿 、向建军 、杨志勋 、胡禺石 。