注册

行业标准《半导体集成电路 串行外设接口测试方法》由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会归口上报,主管部门为工业和信息化部

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院深圳市国微电子有限公司北京兆易创新科技股份有限公司

主要起草人 钟明琛胡海涛李秦华等

目录

标准状态

基础信息

标准号
SJ/T 11702-2018
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.2
31 电子学
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
主管部门
工业和信息化部
行业分类
信息传输、软件和信息技术服务业

备案信息

备案号:63627-2018。

备案公告: 2018年第6号

起草单位

起草人

钟明琛
胡海涛
李秦华

相近标准(计划)