国家标准计划《表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法》由 TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。 拟实施日期:发布后10个月正式实施。
主要起草单位 中国计量科学院 。
主要起草人 王海 、王梅玲 、张艾蕊 、宋小平 。
20150516-T-469 已发布
| 71 化工技术 |
| 71.040 分析化学 |
| 71.040.40 化学分析 |
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 16531:2013。
采标中文名称:表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准及相关电流或电流密度测量。