国家标准计划《半导体单晶晶向测定方法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 峨嵋半导体材料厂 。
主要起草人 杨旭 、何兰英 。
GB/T 1555-1997 (全部代替)
20065620-T-469 已发布
GB/T 1555-2009