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国家标准计划《声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法》由 TC182(全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第二十六研究所中电科技德清华莹电子有限公司天通控股股份有限公司北京石晶光电科技股份有限公司

主要起草人 石自彬贝伟斌徐秋峰朱中晓

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 30118-2013 (全部代替)

声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法
当前标准计划

20194111-T-339 正在批准

声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法

基础信息

计划号
20194111-T-339
制修订
修订
项目周期
24个月
下达日期
2020-01-13
标准类别
方法
中国标准分类号
L21
国际标准分类号
31.140
31 电子学
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
归口单位
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
执行单位
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62276:2016。

采标中文名称:声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法。

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