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国家标准《半导体单晶晶向测定方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 峨嵋半导体材料厂

目录

标准状态

代替了以下标准

GB 1555-1979 (全部代替)

GB 1556-1979 (全部代替)

GB 5254-1985 (全部代替)

GB 5255-1985 (全部代替)

GB 8759-1988 (全部代替)

当前标准

GB/T 1555-1997 废止

半导体单晶晶向测定方法
被以下标准替代

GB/T 1555-2009 (全部代替)

半导体单晶晶向测定方法

基础信息

标准号
GB/T 1555-1997
发布日期
1997-12-22
实施日期
1998-08-01
废止日期
2010-06-01
标准类别
方法
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
29.045
29 电气工程
29.045 半导体材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

采标情况

本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F26:1987。

采标中文名称:。

起草单位

相近标准(计划)