国家标准《半导体单晶晶向测定方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 峨嵋半导体材料厂 。
GB 1555-1979 (全部代替)
GB 1556-1979 (全部代替)
GB 5254-1985 (全部代替)
GB 5255-1985 (全部代替)
GB 8759-1988 (全部代替)
GB/T 1555-1997 废止
GB/T 1555-2009 (全部代替)
29 电气工程 |
29.045 半导体材料 |
本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F26:1987。
采标中文名称:。