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国家标准《半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所有色金属技术经济研究院有限责任公司北京通美晶体技术股份有限公司山东有研半导体材料有限公司弘元新材料(包头)有限公司哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司浙江海纳半导体股份有限公司国标(北京)检验认证有限公司丹东新东方晶体仪器有限公司有研国晶辉新材料有限公司江苏卓远半导体有限公司新美光(苏州)半导体科技有限公司

主要起草人 何烜坤刘立娜李素青庞越马春喜许蓉任殿胜王元立朱晓彤李向宇杨阳潘金平王书明赵松彬林泉李国平张新峰赵丽丽夏秋良

目录

标准状态

当前标准

GB/T 42676-2023 现行

半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

基础信息

标准号
GB/T 42676-2023
发布日期
2023-08-06
实施日期
2024-03-01
标准类别
方法
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

何烜坤
刘立娜
马春喜
许蓉
朱晓彤
李向宇
王书明
赵松彬
张新峰
赵丽丽
李素青
庞越
任殿胜
王元立
杨阳
潘金平
林泉
李国平
夏秋良

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