国家标准计划《半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 拟实施日期：发布后3个月正式实施。
主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、广州盟标质量检测技术服务有限公司 、吉林华微电子股份有限公司 、广微（中山）智能科技有限公司 。
主要起草人 何玉娟 、张战刚 、恩云飞 、雷志锋 、彭超 、席善斌 、来萍 、黄云 、何小琦 、李强 、常江 、张晓全 、曹宏建 、杨少华 。
20201546-T-339 正在批准
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-44 Ed1.0:2016。
采标中文名称:半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法。
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