注册

国家标准《半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 成都振芯科技股份有限公司工业和信息化部电子工业标准化研究院工业和信息化部电子第五研究所深圳市国微电子有限公司深圳市众志联合电子有限公司中国电子科技集团公司第二十九研究所

主要起草人 陈雁罗彬郭超王会影李锟蔡志刚邬海忠钟科

目录

标准状态

当前标准

GB/T 35007-2018 现行

半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

基础信息

标准号
GB/T 35007-2018
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

陈雁
罗彬
李锟
蔡志刚
郭超
王会影
邬海忠
钟科

相近标准(计划)