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国家标准《半导体集成电路 霍尔电路测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院南京中旭电子科技有限公司合肥美菱物联科技有限公司北京微电子技术研究所东莞市国梦电机有限公司

主要起草人 尹航刘芳何万海唐食明张帆刘德广

目录

标准状态

当前标准

GB/T 42838-2023 现行

半导体集成电路 霍尔电路测试方法

基础信息

标准号
GB/T 42838-2023
发布日期
2023-08-06
实施日期
2023-12-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

尹航
刘芳
张帆
刘德广
何万海
唐食明

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