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国家标准《氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所苏州纳维科技有限公司中国科学院物理研究所北京天科合达蓝光半导体有限公司丹东新东方晶体仪器有限公司

主要起草人 邱永鑫任国强刘争晖曾雄辉王建峰陈小龙王文军郑红军徐科赵松彬

目录

标准状态

当前标准

GB/T 32188-2015 现行

氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

基础信息

标准号
GB/T 32188-2015
发布日期
2015-12-10
实施日期
2016-11-01
上次复审日期
2016-12-31
上次复审结论
继续有效
标准类别
方法
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

邱永鑫
任国强
王建峰
陈小龙
徐科
赵松彬
刘争晖
曾雄辉
王文军
郑红军

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