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国家标准《半导体单晶晶向测定方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 峨嵋半导体材料厂

主要起草人 杨旭何兰英

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 1555-1997 (全部代替)

半导体单晶晶向测定方法
当前标准

GB/T 1555-2009 现行

半导体单晶晶向测定方法
即将被以下标准替代

GB/T 1555-2023 (全部代替)

半导体单晶晶向测定方法

基础信息

标准号
GB/T 1555-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
全部代替标准
GB/T 1555-1997
标准类别
方法
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
29 电气工程
29.045 半导体材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

杨旭
何兰英

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