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厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
国家标准 推荐性 废止

国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定》 由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国有色金属工业协会。

主要起草单位 昆明贵金属研究所 。

目录

标准状态

  1. 发布
  2. 实施
  3. 废止
当前标准

GB/T 17473.2-1998 废止

厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
被以下标准替代

GB/T 17473.2-2008 （全部代替）

微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

基础信息

标准号
GB/T 17473.2-1998
发布日期
1998-08-19
实施日期
1999-03-01
废止日期
2008-09-01
标准类别
方法
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040.01
77 冶金
77.040 金属材料试验
77.040.01 金属材料试验综合
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
执行单位
全国有色金属标准化技术委员会
主管部门
中国有色金属工业协会

起草单位

昆明贵金属研究所

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