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国家标准计划《硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。

主要起草单位 南京国盛电子有限公司 、宁波立立电子股份有限公司 、信息产业部专用材料质量监督检验中心 。

主要起草人 马林宝 、唐有青 、刘培东 、李静 、金龙 、吕立平 。

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 14146-1993 (全部代替)

硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
当前标准计划

20065633-T-469 已发布

硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
已发布标准

基础信息

计划号
20065633-T-469
制修订
修订
项目周期
24个月
下达日期
2006-07-05
标准类别
方法
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
29 电气工程
29.045 半导体材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

马林宝
唐有青
金龙
吕立平
刘培东
李静

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