国家标准化指导性技术文件登记项目《硅基光电子片上器件测试方法 第1部分：光耦合器》由 339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 联合微电子中心有限责任公司 、中国科学技术大学 、中国电子技术标准化研究院 、之江实验室 、杭州爱杰光电科技有限公司 、华中科技大学 、上海新微技术研发中心有限公司 、上海曦智科技股份有限公司 、柯泰光芯（常州）测试技术有限公司 。

主要起草人 赵恒 、周志远 、葛邦同 、刘华成 、陈碧超 、杨伟 、杨超 、虞绍良 、周治平 、董建绩 、许强 、于山山 、张骞 。