国家标准化指导性技术文件登记项目《硅基光电子片上器件测试方法 第1部分：光耦合器》由 339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 联合微电子中心有限责任公司 、之江实验室 、中国电子技术标准化研究院 、杭州爱杰光电科技有限公司 、华中科技大学 、上海新微技术研发中心有限公司 、上海曦智科技有限公司 、苏州旭创科技有限公司 、飞空微组贸易（上海）有限公司 。