国家标准计划《半导体器件 第5-11部分:光电子器件 发光二极管 辐射和非辐射电流的测试方法》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、中国电子技术标准化研究院 、广州塞西标准检测研究院有限公司 、南昌大学 、国家半导体器件质量检验检测中心 、鸿利智汇集团股份有限公司 、晶能光电(江西)有限公司 、华南理工大学 、杭州英诺维科技有限公司 、石家庄市京华电子实业有限公司 、浙江智菱科技有限公司 。
20231205-T-339 正在征求意见
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.99 其他半导体分立器件 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60747-5-11:2019。
采标中文名称:半导体器件 第5-11部分:光电子器件 发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法。