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国家标准化指导性技术文件登记项目《硅基光电子片上器件测试方法 第2部分:波导式光探测器》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 上海新微技术研发中心有限公司中国科学院上海微系统与信息技术研究所中国电子技术标准化研究院之江实验室杭州爱杰光电科技有限公司华中科技大学联合微电子中心有限责任公司上海曦智科技有限公司中电科思仪科技股份有限公司

主要起草人 许强蔡艳汪巍王金玉涂芝娟王书晓蔡艳杨超陈必更周治平董建绩赵恒于山山张爱国

目录

项目进度

当前登记项目

20262642-Z-339 正在征求意见

硅基光电子片上器件测试方法 第2部分:波导式光探测器

征求意见稿

基础信息

登记号
20262642-Z-339
制修订
制定
项目周期
10个月
登记日期
2026-05-19
标准类别
方法
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

许强
蔡艳
涂芝娟
王书晓
周治平
董建绩
张爱国
汪巍
王金玉
杨超
陈必更
赵恒
于山山

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