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行业标准《光电耦合器件低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报,主管部门为工业和信息化部

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所西安电子科技大学重庆赛宝工业技术研究院等

主要起草人 余永涛胡为张伟等

目录

标准状态

基础信息

标准号
SJ/T 11766-2020
发布日期
2020-12-09
实施日期
2021-04-01
中国标准分类号
L 50
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
主管部门
工业和信息化部
行业分类

备案信息

备案号:80903-2021。

备案公告: 2021年第3号

适用范围

适用于光电耦合器件1 Hz~300 kHz 频率范围内噪声参数的测试

起草单位

起草人

余永涛
胡为
张伟

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