行业标准《光电耦合器件低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报,主管部门为工业和信息化部。
主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、西安电子科技大学 、重庆赛宝工业技术研究院等 。
主要起草人 余永涛 、胡为 、张伟等 。
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
备案号:80903-2021。
备案公告: 2021年第3号 。
适用于光电耦合器件1 Hz~300 kHz 频率范围内噪声参数的测试