国家标准计划《半导体器件 第5-8部分：光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法》由 339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 厦门市产品质量监督检验院 、中国电子技术标准化研究院 、厦门市产品质量监督检验院 、浙江智菱科技有限公司 、厦门市产品质量监督检验院 、广东省凯诺标准检测有限公司 、杭州英诺维科技有限公司 、湖南汇思光电科技有限公司 、绍兴欧柏斯光电科技有限公司 。

主要起草人 葛莉荭 、刘秀娟 、傅诺毅 、李俊凯 、史园 、吴杜雄 、许子愉 、杨骏捷 、诸鑫炎 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-5-8:2019。

采标中文名称:半导体器件 第5-8部分：光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法。