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国家标准计划《芯粒测试规范 第2部分:芯粒可测性设计及芯粒互联接口连通性测试》由 TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中关村高性能芯片互联技术联盟深圳市海思半导体有限公司中国电子技术标准化研究院杭州长川科技股份有限公司清华大学盛合晶微半导体(江阴)有限公司深圳市中兴微电子技术有限公司北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司北京芯力技术创新中心有限公司成都态坦测试科技有限公司上海兆芯集成电路股份有限公司南京邮电大学南通研究院有限公司中国科学院微电子研究所海光信息技术股份有限公司北京华大九天科技股份有限公司北京大学长迈半导体(成都)有限公司

主要起草人 吴华强张玉芹李翔宇潘俪文杨蕾崔昌明李洋钟锋浩赵文苏菲许剑李强钱元彬秦开贤王凯彭敏强郑凯周亦康徐永刚李红茜蔡志匡李欣喜韩子同张文雯曾辉岳修岩贾天宇

目录

项目进度

当前标准计划

20260746-T-339 正在批准

芯粒测试规范 第2部分:芯粒可测性设计及芯粒互联接口连通性测试

基础信息

计划号
20260746-T-339
制修订
制定
项目周期
6个月
标准类别
方法
中国标准分类号
31.200
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

吴华强
张玉芹
杨蕾
崔昌明
赵文
苏菲
钱元彬
秦开贤
郑凯
周亦康
蔡志匡
李欣喜
曾辉
岳修岩
李翔宇
潘俪文
李洋
钟锋浩
许剑
李强
王凯
彭敏强
徐永刚
李红茜
韩子同
张文雯
贾天宇

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