注册

国家标准计划《芯粒测试规范 第4部分:测试设备和工具》由 TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中关村高性能芯片互联技术联盟杭州长川科技股份有限公司中国电子技术标准化研究院清华大学盛合晶微半导体(江阴)有限公司北京芯力技术创新中心有限公司中国科学院微电子研究所成都态坦测试科技有限公司上海兆芯集成电路股份有限公司南京邮电大学南通研究院有限公司苏州和林微纳科技股份有限公司南京宏泰半导体科技股份有限公司北京华大九天科技股份有限公司长迈半导体(成都)有限公司

主要起草人 吴华强钟锋浩张玉芹李翔宇李铭轩赵阳鲍军其赵轶苏菲许剑李强钱元彬秦开贤徐永刚李红茜蔡志匡钱晓晨毛国梁章莱徐鹏张文雯王宗源

目录

项目进度

当前标准计划

20260748-T-339 正在批准

芯粒测试规范 第4部分:测试设备和工具

基础信息

计划号
20260748-T-339
制修订
制定
项目周期
6个月
标准类别
方法
中国标准分类号
31.200
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

吴华强
钟锋浩
李铭轩
赵阳
苏菲
许剑
秦开贤
徐永刚
钱晓晨
毛国梁
张文雯
王宗源
张玉芹
李翔宇
鲍军其
赵轶
李强
钱元彬
李红茜
蔡志匡
章莱
徐鹏

相近标准(计划)