国家标准计划《纳米技术 纳米尺度薄膜厚度测量 椭圆偏振法应用指南》由 TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,TC279SC2(全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会)执行 ,主管部门为中国科学院。
主要起草单位 泰州飞荣达新材料科技有限公司 、东南大学 、南京大学海安高技术研究院 、泰州巨纳新能源有限公司 、南京大学等 。
20260021-Z-491 正在起草
| 17 计量学和测量、物理现象 |
| 17.180 光学和光学测量 |
| 17.180.30 光学测量仪器 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC/TR 63258:2021。
采标中文名称:纳米技术 纳米尺度薄膜厚度测量 椭圆偏振法应用指南。