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国家标准计划《纳米技术 纳米尺度薄膜厚度测量 椭圆偏振法应用指南》由 TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,TC279SC2(全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会)执行 ,主管部门为中国科学院

主要起草单位 泰州飞荣达新材料科技有限公司东南大学南京大学海安高技术研究院泰州巨纳新能源有限公司南京大学等

目录

项目进度

当前标准计划

20260021-Z-491 正在起草

纳米技术 纳米尺度薄膜厚度测量 椭圆偏振法应用指南

基础信息

计划号
20260021-Z-491
制修订
制定
项目周期
12个月
下达日期
2026-01-09
标准类别
方法
国际标准分类号
17.180.30
17 计量学和测量、物理现象
17.180 光学和光学测量
17.180.30 光学测量仪器
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位
全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会
主管部门
中国科学院

起草单位

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC/TR 63258:2021。

采标中文名称:纳米技术 纳米尺度薄膜厚度测量 椭圆偏振法应用指南。

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