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国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度》 由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院

主要起草单位 清华大学中国矿业大学(北京)中国人民公安大学北京大学

主要起草人 李展平郭冲和平王富芳刘婕刘兆伦孙令辉李芹马静怡张硕周凌刘可心吴美璇

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 20176-2006 (全部代替)

表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
当前标准

GB/T 20176-2025 现行

表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

基础信息

标准号
GB/T 20176-2025
发布日期
2025-06-30
实施日期
2026-01-01
全部代替标准
GB/T 20176-2006
标准类别
方法
中国标准分类号
G 04
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
执行单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 14237:2010。

采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度。

起草单位

起草人

李展平
郭冲
刘婕
刘兆伦
马静怡
张硕
吴美璇
和平
王富芳
孙令辉
李芹
周凌
刘可心

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