国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法》 由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所 。
主要起草人 马农农 、陈潇 、何友琴 、王东雪 。
GB/T 32495-2016 现行
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 12406:2010。
采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法。