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国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法》 由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所

主要起草人 马农农陈潇何友琴王东雪

目录

标准状态

当前标准

GB/T 32495-2016 现行

表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法

基础信息

标准号
GB/T 32495-2016
发布日期
2016-02-24
实施日期
2017-01-01
标准类别
方法
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
执行单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 12406:2010。

采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法。

起草单位

起草人

马农农
陈潇
何友琴
王东雪

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