国家标准计划《表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度》由 TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 清华大学 。
GB/T 20176-2006 (全部代替)
20232769-T-469 正在起草
71 化工技术 |
71.040 分析化学 |
71.040.40 化学分析 |
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 14237:2010。
采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度。