国家标准计划《表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度》由 TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。 拟实施日期：发布后3个月正式实施。
主要起草单位 清华大学 、中国矿业大学（北京） 、中国人民公安大学 、北京大学 。
主要起草人 李展平 、郭冲 、和平 、王富芳 、刘婕 、刘兆伦 、孙令辉 、李芹 、马静怡 、张硕 、周凌 、刘可心 、吴美璇 。
GB/T 20176-2006 （全部代替）
20232769-T-469 正在征求意见
| 71 化工技术 |
| 71.040 分析化学 |
| 71.040.40 化学分析 |
本标准等同采用ISO国际标准：ISO 14237:2010。
采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度。
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