国家标准《太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 、北京合能阳光新能源技术有限公司 、中铝宁夏能源集团有限公司 、宁夏银星多晶硅有限责任公司 、洛阳鸿泰半导体有限公司 、新特能源股份有限公司 。
主要起草人 薛抗美 、夏根平 、肖宗杰 、盛之林 、范占军 、蒋建国 、林清香 、徐自亮 、王泽林 、宋高杰 、刘国霞 。
GB/T 32281-2015 现行
77 冶金 |
77.040 金属材料试验 |
77.040.30 金属材料化学分析 |