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国家标准计划《硅片径向电阻率变化测量方法》由 TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国有色金属工业协会

主要起草单位 麦斯克电子材料股份有限公司天津中环领先材料技术有限公司南京国盛电子有限公司中国电子科技集团公司第四十六研究所浙江海纳半导体有限公司浙江中晶科技股份有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司上海新昇半导体科技有限公司上海合晶硅材料有限公司乐山市产品质量监督检验所有研半导体硅材料股份公司

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 11073-2007 (全部代替)

硅片径向电阻率变化的测量方法
当前标准计划

20233945-T-610 正在征求意见

硅片径向电阻率变化测量方法

征求意见稿

基础信息

计划号
20233945-T-610
制修订
修订
项目周期
16个月
下达日期
2023-12-28
标准类别
方法
国际标准分类号
77.040.01
77 冶金
77.040 金属材料试验
77.040.01 金属材料试验综合
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
执行单位
全国有色金属标准化技术委员会
主管部门
中国有色金属工业协会

起草单位

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