国家标准《硅片电阻率测定 扩展电阻探针法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 南京国盛电子有限公司 、宁波立立电子股份有限公司 。
主要起草人 马林宝 、骆红 、刘培东 、谭卫东 、吕立平 。
GB/T 6617-1995 (全部代替)
GB/T 6617-2009 现行