国家标准计划《纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法》由 TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。 拟实施日期:发布即实施。
主要起草单位 上海交通大学 、纳米技术及应用国家工程研究中心 。
主要起草人 李慧琴 、金承钰 、梁齐 、何丹农 、韦菲菲 。
20091793-T-491 已发布
GB/T 36969-2018