国家标准计划《微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》由 TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。 拟实施日期：发布后6个月正式实施。
主要起草单位 北京科技大学 。
主要起草人 权茂华 、柳得橹 。
20214163-T-469 已发布
| 71 化工技术 |
| 71.040 分析化学 |
| 71.040.50 物理化学分析方法 |
本标准修改采用ISO国际标准：ISO 20263:2017。
采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法。
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