国家标准《微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 北京科技大学 。
主要起草人 权茂华 、柳得橹 。
GB/T 43610-2023 现行
本标准修改采用ISO国际标准:ISO 19214:2017。
采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法。